기본 스펙
500 MHz 대역폭(업그레이드 가능)아날로그 4채널20 GSa/s의 최대 샘플링 속도와 채널당 50 Mpts의 표준 메모리로 기존보다 긴 신호 트레이스 수집8.1비트 및 10비트 아날로그-디지털 컨버터(ADC)의 시스템 유효 비트 수(ENOB)로 뛰어난 신호 정확도 확보멀티 터치를 지원하는 15인치 정전식 터치 스크린 그리고 빠른 부팅과 높은 신뢰성의 표준 솔리드 스테이트 드라이브(SSD)로 향상된 유용성 확보광범위한 프로토콜, 규정 준수 및 분석 소프트웨어에 액세스사양
Bandwidth (-3db) : 500MHz
Typical rise/fall time : 10/90% 860 ps / 20/80% 620 ps
ENOB (typical, not using highresolution mode) : 8.1
Input impedance : 50 Ω + 3.5% (typically +1% at 25°C) 1 MΩ +1% (14 pF typical)
Input sensitivity : 50 Ω: 1 Mv/div to 1 V/div 1 MΩ: 1 mV/div to 5 V/div
Input coupling : 50 Ω: DC 1 MΩ: DC, AC (>11 Hz)
Bandwidth limit filters : Analog: 20 MHz, 200 MHz //Digital: 18.3 MHz up to scope bandwidth, in increments of 100 kHz (under 1 GHz) or 10 MHz (1 GHz and above). Filter options: Brick Wall, 4th Order Bessel, or Bandpass
Channel-to-channel isolation : DC to 100 MHz: 50 dB 100 MHz to 1 GHz: 40 dB >1 GHz: 30 dB
DC gain accuracy : +2% full scale (+1% typical)
Max input voltage : 50 Ω: +5 V
1 MΩ: 30 VRMS or +40 VMAX (DC+VPEAK). Probing technology allows for testing of higher
voltages; the included N2873A 10:1 probe supports 300 VRMS or +400 VMAX (DC+VPEAK).
No transient overvoltage allowed in either the 50 Ω or 1 MΩ path, with or without probes.
Offset range : 50 Ω All vertical ranges: +12 divisions or +4 V, whichever is smaller
1 MΩ
< 10 mV/div: +2 V
> 10 mV/div: +5 V
> 20 mV/div: +10 V
>100 mV/div: +20 V
>1 V/div: +100 V
Offset accuracy : <2 V: ± 0.1 div ± 2 mV ± 1% // >2 V: ± 0.1 div ± 2 mV ± 1.5%
Dynamic range : +4 divisions from center screen
DC voltage measurement : Dual cursor: ± [(DC gain accuracy) + (resolution)]
accuracy : Single cursor: ± [(DC gain accuracy) + (offset accuracy) + (resolution/2)]
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