기본 스펙
- 2 GHz 대역폭(업그레이드 가능)
- 아날로그 4채널 + 디지털 16채널
- 20 GSa/s의 최대 샘플링 속도와 채널당 50 Mpts의 표준 메모리로 기존보다 긴 신호 트레이스 수집
- 7.5비트 및 10비트 아날로그-디지털 컨버터(ADC)의 시스템 유효 비트 수(ENOB)로 뛰어난 신호 정확도 확보
- 멀티 터치를 지원하는 15인치 정전식 터치 스크린 그리고 빠른 부팅과 높은 신뢰성의 솔리드 스테이트 드라이브(SSD)로 향상된 유용성 확보
- 광범위한 프로토콜, 준수 및 분석 소프트웨어로 테스트 향상
사양
Input Channels : DSO: 4 analog; MSO: 4 analog, 16 digital
Bandwidth (-3db) : 50 Ω - 2 GHz / 1 MΩ - 500 MHz
Vertical resolution : 10 bits, up to 16 bits with high-resolution mode
Typical rise/fall time : 10/90% - 215 ps / 20/80% - 155 ps
ENOB (typical, not using highresolution mode) : 7.5
Input impedance : 50 Ω + 3.5% (typically +1% at 25°C) / 1 MΩ +1% (14 pF typical)
Input sensitivity : 50 Ω: 1 Mv/div to 1 V/div / 1 MΩ: 1 mV/div to 5 V/div
Input coupling : 50 Ω: DC / 1 MΩ: DC, AC (>11 Hz)
Bandwidth limit filters : Analog: 20 MHz, 200 MHz / Digital: 18.3 MHz up to scope bandwidth [7]
, in increments of 100 kHz (under 1 GHz) or 10 MHz (1 GHz and above). Filter options: Brick Wall, 4th Order Bessel, or Bandpass
Channel-to-channel isolation : DC to 100 MHz: 50 dB / 100 MHz to 1 GHz: 40 dB / >1 GHz: 30 dB
DC gain accuracy : +2% full scale (+1% typical)
Max input voltage : 50 Ω: +5 V
1 MΩ: 30 VRMS or +40 VMAX (DC+VPEAK). Probing technology allows for testing of higher
voltages; the included N2873A 10:1 probe supports 300 VRMS or +400 VMAX (DC+VPEAK).
No transient overvoltage allowed in either the 50 Ω or 1 MΩ path, with or without probes.
Offset range : 50 Ω All vertical ranges: +12 divisions or +4 V, whichever is smaller
1 MΩ
< 10 mV/div: +2 V
> 10 mV/div: +5 V
> 20 mV/div: +10 V
>100 mV/div: +20 V
>1 V/div: +100 V
Offset accuracy : <2 V: ± 0.1 div ± 2 mV ± 1% // >2 V: ± 0.1 div ± 2 mV ± 1.5%
Dynamic range : +4 divisions from center screen
DC voltage measurement : Dual cursor: ± [(DC gain accuracy) + (resolution)]
accuracy : Single cursor: ± [(DC gain accuracy) + (offset accuracy) + (resolution/2)]
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